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Microscopio di forza atomica
Il microscopio di forza atomica AFM utilizza la forza di azione tra la sonda di misura e il campione per effettuare analisi di scansione ad alta preci
Dettagli del prodotto
Microscopio di forza atomica per misurazioni nell'industria dei semiconduttori
Rango di misurazione X e Y: 20umX20um; 40umX40um; 80umX80um
Z Rango di misurazione: 2um 4um 6um
Risoluzione X e Y: 0.1nm
Risoluzione Z: 0.01nm
Microscopio di forza atomica(AFM)Attraverso una piccola dimensione
Scansione superficiale del campione con punta di precisione sul braccio
Punta e superficie del campionetra gli atomi.Le interazioni consentono
Una leggera deviazione della posizione del braccio, poidaResistenza alla pressione
I componenti rilevano il cambiamento e vengono misuratisulla base
Questo impatto,AFMPuò essere ad alta risoluzioneMisurazione
Forma e rugosità della superficie, misurazione senza danni
AFMPossono essere utilizzate diverse modalità di funzionamento, quindi
Per studiare ulteriori prestazioni,Per esempio l'elettricità statica del campione.
forza magnetica o elasticità.
Caratteristiche:
Misura delle prestazioni
Alta risoluzioneMisura della superficie
La punta si avvicina automaticamente alla superficie del campione da misurare
Campionamento della superficie del campioneElementi di induzione della pressione
Modalità di misurazione a contatto, modalità di misurazione senza contatto
Misurazione delle proprietà elettriche e magnetiche
measurement of electrical and magnetic properties,
Misura della forza laterale ed elasticitàlateral forces and elasticity*1
Misurazione dei liquidimeasurement in liquids*2
Altre modalità di funzionamento disponibili
*1 contact mode in basic version, additional modes upon request
*2 optional
Atomic Force Microscopy
Surface CharacterizationCaratteristiche della superficie
Very High ResolutionsAlta risoluzione
Applicazioni tipiche:
Garanzia di qualità per le tecnologie microindustriali
NanoLivello nanoRuositàMisurazione
Misurazione della superficie del silicio e dei dispositivi otticirange
Caratteristiche della superficie del campione biologico
Misurazione delle nanostrutture
Studi sulle caratteristiche superficiali dei campioni medicimedical samples,
e.g. protheses, catheters or stents
Rilevamento di anelli in gomma per la scienza dei materiali,pezzi magnetici ecc.
AFM measuring headTesta di misura
control unitdispositivi di controllo; Sensore installato sulla stazione elettrica
sensor mount with motor-driven z-stage
software, operating manualManuale di utilizzo del software di misurazione
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